微電路部件綜合測試儀是研制檢測微電路電子部件和厚膜電路的專用設備，主要用于檢測電子部件和厚膜電路的電阻、消耗電流、信號壓降、信號電壓和點火脈沖，并把測試結果以波形和報表形式輸出打印或保存
主要技術指標：
1 電阻的測量電流不能大于5mA;
2 時間測量精度：在5ms～150ms的測量量程內滿足±（0.5%+20us）；
3 電阻測量精度：2Ω～60kΩ量程內滿足±（0.5%+2mΩ）；
4 電壓測量精度：在200mV～100V全量程范圍內滿足±（0.5%+10mＶ）；
5 電流測量精度：10mA～2A測量范圍內，滿足±（1%+1mA）；
6 供電電源：-28V±0.5V和-36V±0.5V；
7測試儀能夠產生模擬信號
周期：133ms±8ms  脈寬：12ms±1ms 幅度：≥27V；
8測試儀能夠產生模擬指令信號
周期：133ms±8ms 脈寬：60ms±10ms 幅度：20V±0.5V；